电子分析天平为梅特勒-托利多公司生产的XSR105DU型分析天平。量程为41/120g，可读性为0.01/0.1mg，稳定时间1.5s，采用悬挂式秤盘确保高度稳定性和出色的重复性。用于采样滤纸的称量，获得准确、可靠的结果，以便于颗粒排放物的计算分析。